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Fakultät für Informatik - Technische Universität MünchenLehrstuhl für Effiziente Algorithmen |
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| Suche: Journal=IEEE Trans.~Comput. AND Volume=6 |
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Comments on ``Line digraph iterations and connectivity analysis of de Bruijn and Kautz graphs''
C. Padró, P. Morillo, M.A. Fiol
IEEE Transactions on Computers 6 (45), 1996, pp. 768
| Publisher: | IEEE Computer Society Press | |
| Address: | Los Alamitos-Washington-Brussels-Tokyo | |
| Keywords: | connectivity, diameter-vulnerability, fault-tolerance, line digraph iteration, spread | |
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