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Fakultät für Informatik - Technische Universität MünchenLehrstuhl für Effiziente Algorithmen |
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Information Processing Letters 88 (3), 2003, pp. 89-94
Publisher: | Elsevier Science B.V. (North-Holland) | |
Address: | Amsterdam-London-New York-Oxford-Paris-Shannon-Tokyo | |
Keywords: | fault tolerance, system-level diagnosis, pmc model, one-step t-fault diagnosable system, highly structured system, d-regular graphs | |
URL: |
DOI:10.1016/S0020-0190(03)00363-6 | |
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