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Magnetic resonance electrical impedance tomography (MREIT) Publikation auswählen
Jin Keun Seo, Eung Je Woo

SIAM Review 53 (1), 2011, pp. 40-68

Editors  C.T. Kelley
Publisher:  Society for Industrial and Applied Mathematics
Address:  Philadelphia, PA
 
Keywords:   magnetic resonance eit, electrical impedance tomography, inverse problems
 
URL:   http://dx.doi.org/10.1137/080742932