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Gabriel A. Schachtel

SIAM Journal on Discrete Mathematics 18 (1), 2004, pp. 141-158

Editors  J.R. Griggs
Publisher:  Society for Industrial and Applied Mathematics
Address:  Philadelphia, PA
 
Keywords:   run test, word, sequence analysis, cluster, short tandem repeat, microsatellite
 
URL:   http://dx.doi.org/10.1137/S0895480101390576