 |
Fakultät für Informatik - Technische Universität MünchenLehrstuhl für Effiziente Algorithmen |
 |
Die bibliographische Datenbank LEABib
Suchen •
Liste der Journale •
Liste der Serien •
Liste der Konferenzen •
Ausgewählte Publikationen  [1]
|
Hilfe 
|
 |
|
| Suche: Citkey="Santoro-Ren-Nayak/95" |
|
On the complexity of testing for catastrophic faults
N. Santoro, J. Ren, A. Nayak
Proceedings of the 6th International Symposium on Algorithms and Computation, ISAAC'95 (Cairns, Australia, December 4-6, 1995)
Lecture Notes in Computer Science
1004
, 1995, pp. 188-197
| Editors | John Staples, Peter Eades, Naoki Katho, Alistair Moffat | |
| Publisher: | Springer-Verlag | |
| Address: | Berlin-Heidelberg-New York-Barcelona-Budapest-Hong Kong-London-Milan-Paris-Santa Clara-Singapore-Tokyo | |
|
|
|
|