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Fakultät für Informatik - Technische Universität München

Lehrstuhl für Effiziente Algorithmen

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Statistical identification of uniformly mutated segments within repeats Publikation auswählen
S. Cenk į¹¢ahinalp, Evan Eichler, Paul Goldberg, Petra Berenbrink, Tom Friedetzky, Funda Ergun

Proceedings of the 13th Annual Symposium on Combinatorial Pattern Matching, CPM'2002 (Fukuoka, Japan, July 3-5, 2002)
Lecture Notes in Computer Science 2373 , 2002, pp. 249-261

Editors  Alberto Apostolico, Masayuki Takeda
Publisher:  Springer-Verlag
Address:  Berlin-Heidelberg-New York-Barcelona-Hong Kong-London-Milan-Paris-Tokyo
 
URL:   http://www.springerlink.com/content/hw2m4khqn2j005p2