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The Hausdorff Voronoi diagram of point clusters in the plane Publikation auswählen
Evanthia Papadopoulou

Algorithmica 40 (2), 2004, pp. 63-82

Editors  C.K. Wong
Publisher:  Springer-Verlag
Address:  New York
 
Keywords:   voronoi diagram, hausdorff distance, plane sweep, vlsi yield prediction, vlsi critical area, manufacturing defects, via-blocks
 
URL:   http://springerlink.metapress.com/index/10.1007/s00453-004-1095-0