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New bounds on the reliability of augmented shuffle-exchange networks Publikation auswählen
Bernard L. Menezes, Umesh Bakhru

IEEE Transactions on Computers 44 (1), 1995, January, pp. 123-129

Publisher:  IEEE Computer Society Press
Address:  Los Alamitos-Washington-Brussels-Tokyo
 
Keywords:   extra-stage shuffle-exchange network (SEN+), reliability, switch trees, wrap-around connections