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Fakultät für Informatik - Technische Universität MünchenLehrstuhl für Effiziente Algorithmen |
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Networks 45 (2), 2005, pp. 88-94
Editors | Bruce L. Golden, Douglas R. Shier | |
Publisher: | John Wiley & Sons | |
Address: | Hoboken | |
Keywords: | connectivity, diameter, fault-tolerant diameter, wide diameter, networks | |
URL: |
http://dx.doi.org/10.1002/net.20054 | |
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