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Maximal margin classification for metric spaces Publikation auswählen
Matthias Hein, Olivier Bousquet, Bernhard Schölkopf

Journal of Computer and System Sciences 71 (3), 2005, pp. 333-359

Editors  E.K. Blum
Publisher:  Elsevier B.V.
Address:  Amsterdam-San Diego-Orlando-Tokyo-Singapore
 
Keywords:   classification, maximum margin, metric spaces, embedding, pattern recognition
 
URL:   http://www.sciencedirect.com/science/article/B6WJ0-4F03348-1/2/c282ca293093f83729701f4bf16282ff