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Fakultät für Informatik - Technische Universität MünchenLehrstuhl für Effiziente Algorithmen |
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Journal of Computer and System Sciences 71 (3), 2005, pp. 333-359
Editors | E.K. Blum | |
Publisher: | Elsevier B.V. | |
Address: | Amsterdam-San Diego-Orlando-Tokyo-Singapore | |
Keywords: | classification, maximum margin, metric spaces, embedding, pattern recognition | |
URL: |
http://www.sciencedirect.com/science/article/B6WJ0-4F03348-1/2/c282ca293093f83729701f4bf16282ff | |
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