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Algorithms for multi-level graph planarity testing and layout Publikation auswählen
Patrick Healy, Ago Kuusik

Theoretical Computer Science 320 (2-3), 2004, pp. 331-344

Editors  G. Ausiello, D. Sannella
Publisher:  Elsevier Science Publishers B.V.
Address:  Amsterdam-London-New York-Oxford-Paris-Shannon-Tokyo
 
Keywords:   Level graphs, Level planarity testing, Level graph layout
 
URL:   DOI:10.1016/j.tcs.2004.02.033