Informatik-Logo
Fakultät für Informatik - Technische Universität München

Lehrstuhl für Effiziente Algorithmen

TUM-Logo

Die bibliographische Datenbank LEABib


SuchenListe der JournaleListe der SerienListe der KonferenzenAusgewählte Publikationen Ausgewählte Publikationen [2] Hilfe Hilfe
 
Suche: Citkey="Gutwenger-Klein-Mutzel/07"
Als [bib] [pdf] [ps] [dvi] [xml]  herunterladen.

Planarity testing and optimal edge insertion with embedding constraints Publikation auswählen
Carsten Gutwenger, Karsten Klein, Petra Mutzel

Proceedings of the 14th International Symposium on Graph Drawing, GD'2006 (Karlsruhe, Germany, September 18-20, 2006)
Lecture Notes in Computer Science 4372 , 2007, pp. 126-137

Editors  Michael Kaufmann, Dorothea Wagner
Publisher:  Springer-Verlag
Address:  Berlin-Heidelberg
 
URL:   http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-70904-6_14