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Fakultät für Informatik - Technische Universität MünchenLehrstuhl für Effiziente Algorithmen |
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| Suche: Citkey="Giuliano-Jones-Kimball-Meyer-Stein/61" |
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Automatic pattern recognition by a Gestalt method
Vincent E. Giuliano, Paul E. Jones, George E. Kimball, Richard F. Meyer, Barry A. Stein
Information and Control 4 , 1961, pp. 332-345
| Publisher: | Academic Press | |
| Address: | New York-San Francisco-London-San Diego | |
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