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Fully dynamic planarity testing with applications Publikation auswählen
Zvi Galil, Giuseppe F. Italiano, Neil Sarnak

Journal of the ACM 46 (1), 1999, pp. 28-91

Editors  Joseph Y. Halpern
Publisher:  ACM Press
Address:  New York
 
URL:   http://doi.acm.org/10.1145/300515.300517