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Fakultät für Informatik - Technische Universität MünchenLehrstuhl für Effiziente Algorithmen |
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| Suche: Citkey="Cheng-Ouyang-Yunfei-Zhang/05" |
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An improved model-based method to test circuit faults
Xiaochun Cheng, Dantong Ouyang, Jiang Yunfei, Chengqi Zhang
Theoretical Computer Science 341 (1-3), 2005, pp. 150-161
| Editors | G. Ausiello, D. Sannella | |
| Publisher: | Elsevier B.V. | |
| Address: | Amsterdam-Boston-Jena-London-New York-Oxford-Paris-Philadelphia-San Diego-St. Louis | |
| Keywords: | testing, search, deduction, abduction, prime implication | |
| URL: |
http://dx.doi.org/10.1016/j.tcs.2005.04.004 | |
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