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Fakultät für Informatik - Technische Universität MünchenLehrstuhl für Effiziente Algorithmen |
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SIAM Review 52 (2), 2010, pp. 359-377
Editors | Robert B. Schnabel | |
Publisher: | Society for Industrial and Applied Mathematics | |
Address: | Philadelphia, PA | |
Keywords: | electrical impedance tomography, cloaking, metamaterial, dirichlet-to-neumann map, laplace's equation, inverse problem | |
URL: |
http://link.aip.org/link/?SIR/52/359/1 | |
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