Informatik-Logo
Fakultät für Informatik - Technische Universität München

Lehrstuhl für Effiziente Algorithmen

TUM-Logo

Die bibliographische Datenbank LEABib


SuchenListe der JournaleListe der SerienListe der KonferenzenAusgewählte Publikationen Ausgewählte Publikationen Hilfe Hilfe
 
Suche: Citkey="Boyer-Cortese-Patrignani-Di_Battista/04"
Als [bib] [pdf] [ps] [dvi] [xml]  herunterladen.

Stop minding your P's and Q's: Implementing a fast and simple DFS-based planarity testing and embedding algorithm Publikation auswählen
John M. Boyer, Pier Francesco Cortese, Maurizio Patrignani, Giuseppe Di Battista

Proceedings of the 11th International Symposium on Graph Drawing, GD'2003 (Perugia, Italy, September 21-24, 2003)
Lecture Notes in Computer Science 2912 , 2004, pp. 25-36

Editors  Giuseppe Liotta
Publisher:  Springer-Verlag
Address:  Berlin-Heidelberg-New York-Hong Kong-London-Milan-Paris-Tokyo
 
URL:   http://www.springerlink.com/content/9ccuwf1vplbvhc7w