Fakultät für Informatik - Technische Universität MünchenLehrstuhl für Effiziente Algorithmen |
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IEEE Transactions on Computers 45 (4), 1996, pp. 385-393
Publisher: | IEEE Computer Society Press | |
Address: | Los Alamitos-Washington-Brussels-Tokyo | |
Keywords: | built-in testing, concurrent error detection, fault tolerance, Pentium, reliability, result-checking, verification | |