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Algebraic independence and blackbox identity testing Publikation auswählen
M. Beecken, J. Mittmann, N. Saxena

Information and Computation 222 , 2013, pp. 2-19

Editors  Albert R. Meyer
Publisher:  Elsevier B.V.
Address:  Amsterdam-Boston-London-New York-Oxford-Paris-Philadelphia-San Diego-San Louis
 
Keywords:   algebraic independence, transcendence degree, arithmetic circuits, polynomial identity testing, blackbox algorithms, depth-4 circuits
 
URL:   http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0890540112001435