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The ideal membership problem and polynomial identity testing Publikation auswählen
V. Arvind, Partha Mukhopadhyay

Information and Computation 208 (4), 2010, pp. 351-363

Editors  Albert R. Meyer
Publisher:  Elsevier B.V.
Address:  Amsterdam-Boston-London-New York-Oxford-Paris-Philadelphia-San Diego-San Louis
 
Keywords:   arithmetic circuits, polynomial identity testing, ideal membership
 
URL:   http://www.sciencedirect.com/science/article/B6WGK-4WNXTXG-2/2/4ed1acd2c37a8c9d582613a2c18a1390